KDK-KDY-2型兩探針電阻率測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱兩探針儀）是按照我家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-1995及美材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（ASTM）推薦的材料驗(yàn)收檢測(cè)方法“兩探針法”*。它適合于測(cè)量橫截面面積均勻的圓型，方型或矩形單晶錠（如硅芯、檢磷、硼棒、區(qū)熔鍺錠等）的電阻率，測(cè)樣長度與截面*尺寸之比應(yīng)不小于3：1。由于兩探針法的測(cè)量電流是從長棒兩端出，遠(yuǎn)離電壓測(cè)量探針，因此電流流過金屬與半導(dǎo)體接觸處產(chǎn)生的許多副效應(yīng)（如珀?duì)柼?yīng)、塞貝克效應(yīng)、少子注入效應(yīng)等），對(duì)測(cè)量的影響較小，測(cè)量結(jié)果為橫截面的平均電阻率，兩探針法的測(cè)量精度般優(yōu)于四探針法。