方塊電阻測試儀/方塊電阻測定儀/四探針方塊電阻測試儀H19413
方塊電阻測試儀,是XX型系列四探針方塊電阻測試儀中的新代產(chǎn)品,門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器.可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質的薄層電阻
點:
1、采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要分，測量準確穩(wěn)定。
2、以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰
3、采用單個電池供電，帶電池欠壓示
4、體積≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g
5、可配臺式探頭和制之手握式探頭，對應可采用臺式和手握式操作，使用簡易
6、帶探頭與被測物質接觸良好示(LED)
7、單電源開關，推拉式探頭－主機接插件，操作其簡便。
術標
測量范圍：基本量程：方塊電阻 1.00-199.99(Ω/口)
擴展量程: 方塊電阻 10.0-1999.9(Ω/口)
測量不確定度≤5%
探針間距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;緣電阻≥500 MΩ
手握式探筆長度:約150mm或90mm;電纜聯(lián)線長度:約1.5M

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